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GCPJ-B 光的(de)幹涉實驗—劈尖

【産品簡介】

劈尖,薄膜的(de)兩個表面是平面,其間有(yǒu)很小的(de)夾角。根據薄膜幹涉的(de)原理(lǐ),可(kě)以測定平面的(de)平直度。測定的(de)精度很高(gāo),甚至幾分之一(yī)波長(cháng)那麽小的(de)隆起或下陷都可(kě)以從條紋的(de)彎曲上檢測出來。若使兩個很平的(de)玻璃闆間有(yǒu)一(yī)個很小的(de)角度,就構成一(yī)個楔形空氣薄膜,可(kě)以用已知波長(cháng)的(de)單色光入射産生的(de)幹涉條紋,可(kě)用來測很小的(de)長(cháng)度。

【實驗內(nèi)容】

      1、用劈尖幹涉測量細絲的(de)直徑