GCJDCL-B 光學(xué)系統基點測量
【産品簡介】
光學(xué)儀器中的(de)共軸球面系統、厚透鏡、透鏡組,常把它作為(wèi)一(yī)個整體來研究。這時可(kě)以用三對特殊的(de)點和(hé)三對面來表征系統在成像上的(de)性質。若已知這三對點和(hé)三對面的(de)位置,則可(kě)用簡單的(de)高(gāo)斯公式和(hé)牛頓公式來研究其成像規律,共軸球面系統的(de)這三對基點和(hé)基面是主焦點和(hé)主焦面,主點和(hé)主平面,節點和(hé)節平面。
【實驗內(nèi)容】
1、光學(xué)系統基點測量實驗